產品名稱：Keysight是德科技 B1500A 半導體器件參數分析儀 B1505A B1505AP

Keysight B1500A 是是德科技（Keysight Technologies）推出的一款高性能半導體參數分析儀，專為器件表征和測試設計，適用于多種電子設備、材料和元器件的電氣特性分析。以下是其核心功能和技術特點的總結：

一、核心功能與技術特點

1. 多參數測量能力

   • IV/CV/脈沖測量：支持電流-電壓（IV）、電容-電壓（CV）、脈沖/動態IV測量，覆蓋從0.1fA（飛安）到1A的電流范圍，0.5μV（微伏）到200V的電壓范圍。
   • 高精度測量：分辨率達0.1fA（使用ASU模塊）和0.5μV，適用于低噪聲、高靈敏度的半導體器件測試。
   • 瞬態捕捉：支持100ns脈沖寬度和5ns采樣率，可捕獲超快速瞬態現象（如NBTI/PBTI閾值退化、RTS噪聲等）。

2. 模塊化設計

   • 靈活配置：提供10個插槽，可配置多種模塊（如SMU、HV-SPGU、WGFMU等），滿足不同測試需求（例如高電壓脈沖、多頻電容測量）。
   • 升級擴展：支持添加新模塊（如B1525A高壓脈沖發生器、B1530A波形生成模塊），適應未來測試需求。

3. 用戶友好的操作體驗

   • 觸摸屏與軟件：配備15英寸觸摸屏，內置EasyEXPERTgroup+軟件，支持300+預置測試程序，簡化測試流程（三步完成：選測試、調參數、執行）。
   • 自動化與數據管理：支持半自動晶圓探針臺控制，自動保存測試條件和數據，便于數據追溯。

二、典型應用場景

1. 半導體器件測試

   • 分立器件：晶體管（Id-Vg、Id-Vd）、二極管擊穿特性、MOSFET閾值電壓（Vth）等。
   • 功率器件：高壓IGBT、SiC/GaN器件的脈沖IV特性分析。

2. 可靠性評估

   • 老化測試：如NBTI（負偏壓溫度不穩定性）、TDDB（時間依賴介電擊穿）。
   • 存儲器件：閃存單元表征，支持高達±40V的高壓脈沖測試。

3. 科研與教育

   • 支持有機薄膜晶體管（Organic-TFT）、納米器件（如納米線、量子點）的精密電學特性研究。

三、配置與選型建議

1. 模塊選擇

   • 基礎測試：B1511B（**率SMU）、B1517A（高分辨率SMU）。
   • 高頻需求：MFCMU（多頻電容測量單元，支持1kHz-5MHz CV測試）。
   • 脈沖應用：B1525A（高壓脈沖發生器）或B1530A（波形生成與快速測量單元）。

2. 軟件與兼容性

   • 支持Windows 10嵌入式系統，兼容IC-CAP等第三方分析工具，提供離線數據分析功能。